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產品型號
SHG1030 -
廠商性質
經銷商 -
更新時間
2026-08-18 -
瀏覽次數
110
產品描述
二次諧波測試系統是一種基于非線性光學效應的精密測量裝置。其核心工作原理是，利用超快飛秒激光器發射的基頻脈沖激光與樣品相互作用，產生頻率加倍、波長減半的相干信號光。系統通常集成共聚焦顯微鏡以實現微區激發與信號收集，并通過精密的偏振控制組件（如半波片、偏振片）研究信號的偏振依賴性，從而獲取材料的晶體對稱性、晶格取向、堆垛方式等關鍵結構信息。
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二次諧波測試系統是一種基于非線性光學效應的精密測量裝置。其核心工作原理是，利用超快飛秒激光器發射的基頻脈沖激光與樣品相互作用，產生頻率加倍、波長減半的相干信號光。系統通常集成共聚焦顯微鏡以實現微區激發與信號收集，并通過精密的偏振控制組件（如半波片、偏振片）研究信號的偏振依賴性，從而獲取材料的晶體對稱性、晶格取向、堆垛方式等關鍵結構信息。